＜図書＞
Proceedings : IEEE Workshop on Multi-View Modeling & Analysis of Visual Scenes : June 26, 1999 Fort Collins, Colorado / sponsored by IEEE Computer Society Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence
Proceedings : IEEE Workshop on Multi-View Modeling & Analysis of Visual Scenes : June 26, 1999 Fort Collins, Colorado
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society |
| 出版年 | c1999 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | vii, 89 p. : ill. ; 28 cm |
目次／あらすじ
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| 巻 次 | 配架場所 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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3階 | 007.6/I21 | 0000047436 |
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0769501109 | 1999 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index IEEE Computer Society Order Number : PRO0110 |
|---|---|
| 著者標目 | IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence |
| 分 類 | NDC8:007.6 |
| 書誌ID | 1000107797 |
| ISBN | 0769501109 |
| NCID | BA46564041 |
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