＜図書＞
新・テスト理論 :教育情報の構造分析法 / 竹谷誠著
シン テスト リロン : キョウイク ジョウホウノ コウゾウ ブンセキホウ
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : 早稲田大学出版部 |
| 大きさ | 313p ; 22cm |
目次／あらすじ
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| 巻 次 | 配架場所 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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2階 | 371.7/Ta68 | 5092016380 |
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4657914162 | 1991 |
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| 一般注記 | 1991.4 jpn 文献:p301〜309 |
|---|---|
| 著者標目 | 竹谷, 誠(1941- ) <タケヤ, マコト(1941- )> |
| 件 名 | 教育評価 |
| 分 類 | NDC8:371.7 |
| 書誌ID | 1000047132 |
| ISBN | 4657914162 |
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